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理学SmartLab多功能X射线衍射仪

  • 产品描述
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  • 全新智能X射线衍射仪SmartLab系列,是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪。

    品牌:日本理学(Rigaku)

    产地:日本

    型号:SmartLab 




  • 全新智能X射线衍射仪SmartLab,是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪,

    它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能

    的测量分析软件SmartLab Studio II,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、

    液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

     

     技术参数


      1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶
      2、测角仪为水平测角仪
      3、测角仪最小步进为1/10000度,最高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学专利)

      4、测角仪配程序式可变狭缝
      5、自动识别所有光学组件、样品台(理学专利)
      6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学专利)
      7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)
      8、多用途薄膜测试组件
      9、微区测试组件
     10、In-Plane测试组件(理学独有)
     11、入射端Ka1光学组件
     12、高速探测器
     13、二维面探

     14、智能的测量分析软件


    主要特点

    智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
    可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
    可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
    主要的应用有:
    1. 粉末样品的物相定性与定量分析
    2. 计算结晶化度、晶粒大小
    3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
    4. Rietveld定量分析
    5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
    6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
    7. 小角散射与纳米材料粒径分布
    8. 微区样品的分析



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