品牌：日本理学（Rigaku）

产地：日本

型号：SmartLab SE

技术参数:

1、X射线发生器功率为3KW

2、测角仪为水平测角仪

3、测角仪半径300mm

4、测角仪配程序式可变狭缝

5、最小步径0.0001度

6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）

7、高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）

8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)

7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包

8、视频观察系统

9、丰富的各种附件

主要特点

1、使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验，就可以得到高质量的分析结果。

2、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 

3、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 

4、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

主要的应用有： 
1. 粉末样品的物相定性与定量分析 
2. 计算结晶化度、晶粒大小 
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 
4. Rietveld定量分析 
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 
6.小角散射与纳米材料粒径分布 
7. 微区样品的分析

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